热门搜索： GIS127S 、

  • 首页

  • 关于格芯
    企业简介 大事记 企业文化 荣誉资质

  • 产品中心
    芯片光学检测设备 晶圆光学检测设备 平移式分选设备 其他设备
    查看所有产品

    芯片第三次光学检测设备（AOI）

    GIS127S

    GIS127S

    标准型
    GIS127TD

    GIS127TD

    FC 3D检测
    GIS221

    GIS221

    可嵌入回流焊等PCBA流水线
    GIS211

    GIS211

    多视觉、多角度成像
    GIS127M

    GIS127M

    缺陷物理标记
    GIS211TD

    GIS211TD

    多目3D检测

    成品光学检测设备

    GIS600

    GIS600

    四光机

    晶圆光学检测设备

    GIS500

    GIS500

    一光机
    GIS300

    GIS300

    二光机

    平移式分选设备

    GIT1204/GIT1204H

    GIT1204/GIT1204H

    4&8 Test Sites
    GIT1208/GIT1208H/GIT1208C

    GIT1208/GIT1208H/GIT1208C

    8&16 Test Sites
    GIT1216/GIT1216H

    GIT1216/GIT1216H

    16 Test Sites
    GIT120M

    GIT120M

    2&4 Test Sites
    GIT1208T

    GIT1208T

    三温，8 Test Sites
    GITS28

    GITS28

    系统级测试分选

    激光打标机

    GM30ST

    GM30ST
    GM70D

    GM70D
    GM80

    GM80

  • 服务支持
    客户服务 售后网点 下载中心

  • 新闻资讯
    公司新闻 行业资讯

  • 联系我们
    联系方式 加入我们
  • 首页
  • 关于格芯
    企业简介 大事记 企业文化 荣誉资质
  • 产品中心
    芯片光学检测设备 晶圆光学检测设备 平移式分选设备 其他设备
  • 服务支持
    客户服务 售后网点 下载中心
  • 新闻资讯
    公司新闻 行业资讯
  • 联系我们
    联系方式 加入我们

  • 首页

  • 关于格芯

    企业简介
    大事记
    企业文化
    荣誉资质

  • 产品中心

    芯片光学检测设备

    GIS600 GIS127S GIS127TD GIS221 GIS211 GIS127M GIS211TD

    晶圆光学检测设备

    GIS500 GIS300

    平移式分选设备

    GIT1204/GIT1204H GIT1208/GIT1208H/GIT1208C GIT1216/GIT1216H GIT120M GIT1208T GITS28

    其他设备

    GM30ST GM70D GM80

  • 服务支持

    客户服务
    售后网点
    下载中心

  • 新闻资讯

    公司新闻
    行业资讯

  • 联系我们

    联系方式
    加入我们

  • 其他

    网站地图
    隐私政策
    免责声明

致力于成为中国集成电路芯片检测设备领先供应商

公司名称：深圳格芯集成电路装备有限公司

联系地址：深圳市坪山区翠景路33号格兰达装备产业园二期

联系电话：0755-89318001

电子邮箱：sales@grand-tec.com

关于格芯

  • 企业简介
  • 大事记
  • 企业文化
  • 荣誉资质

产品中心

  • 芯片光学检测设备
  • 晶圆光学检测设备
  • 平移式分选设备
  • 其他设备

服务支持

  • 客户服务
  • 售后网点
  • 下载中心

新闻资讯

  • 公司新闻
  • 行业资讯

联系我们

  • 联系方式
  • 加入我们

Copyright@ 1995-2022 Grand.A Rights Reserved.深圳格芯集成电路装备有限公司 粤ICP备2023130597号-1

网站地图 隐私政策 免责声明
  • tel: 89318888