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28/42site(可选 60site)
1X2(上料）*1X2（下料）
约2500mm(L)*1480mm(W)*1800mm(H)
约1200Kg
≥15.5s
常温最大0.45K
标准：70Kg
QFN,QFP,TSOP,BGA,SIP,PLCC,LGA,CSP,PGA etc.
5mm×5mm～15mm×15mm
AC220V,50/60HZ 最大功率13KW（高温）
＞0.5Mpa
＜1/5000
＞1小时
故障时间<3%
100%
＞99.6%（OS好品测试）
50 ℃~+130 ℃ ±3 ℃
标配：常/高温
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定制化测试方案/更低成本整机方案
拥有视觉检偏功能，放料报警率更低
您可以通过右侧方式联系我们，我们将指派专业的顾问为您定制产品解决方案。
0755-89318001
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4&8 Test Sites
用于封测厂FT工序的IC常高温测试分选，支持多种通讯方式，丰富的选配功能。
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8&16 Test Sites
用于封测厂FT工序的IC常高温测试分选，支持多种通讯方式，丰富的选配功能。
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16 Test Sites
用于封测厂FT工序的IC常高温测试分选，支持多种通讯方式，丰富的选配功能，兼容更多芯片同时测试。
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2&4 Test Sites
小型化设计，用于芯片设计公司或者实验室的常高温测试分选。
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三温，8 Test Sites
用于工业和车规机芯片的三温测试分选，测试温度范围-55～+150±2°C。
