GIS127M

GIS127M
GIS127M
鼠标滑动

GIS127M

缺陷物理标记

2D缺陷+对缺陷产品进行激光标记。

产品咨询
GIS127M
GIS127M

技术参数

添加对比

产品规格

160-300mm(L)*40-100mm (W)*0.1-0.7mm(T)

UPH

40-60条/小时(由料条及芯片大小而定)

MTBA

1小时

MTBF

168小时

Index运动精度

±0.05mm

料条定位精度

±0.05mm

2D检测内容

Die缺失、偏移转角、污染、墨点、破损、刮伤、第一/第二焊点脱落、焊线偏移、焊线塌/碰/断线、多线、线尾、手指变形、桥接、污染、银胶过少等

2D检测精度

约5μm(可配更高精度)

设备尺寸

1900mm (L)x 1100mm (W)x 1750mm(H)

主要优势

添加对比
  • 视觉系统

    视觉系统

    2D

  • 上下料方式

    上下料方式

    多料盒自动上下料

  • 可选配置

    可选配置

    激光标记

  • 快速建档

    快速建档

    向导式学习、CAD导图建档,快速启动生产

  • 料条二维码

    料条二维码

    自动读取

  • 安全保护

    安全保护

    全制程工艺管控

  • 前制程数据读取

    前制程数据读取

    2D

  • 防混料

    防混料

    多料盒自动上下料

  • 视觉检测分组

    视觉检测分组

    可精准快速进行点位调试

  • 集成AI算法

    集成AI算法

    清晰的界面、简单的操作方式

应用领域

传统封装

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

先进封装

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

COB

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

Memory

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

IGBT

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

摄像头模组

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

光通讯

扩展到芯片封装、制造的其他工序,以及面板、电子模块等领域

传统封装

先进封装

COB

Memory

IGBT

摄像头模组

光通讯

可检测缺陷

用于Die bond、Wire bond后缺陷检测,
包括Die缺失、错位、裂纹,焊点偏移、焊线塌、
碰、断等各类缺陷。

焊点缺失

焊点缺失

焊点偏移

焊点偏移

焊线短路

焊线短路

焊线断线

焊线断线

焊线塌线

焊线塌线

芯片表面污染

芯片表面污染

如果想进一步了解我们的产品

您可以通过右侧方式联系我们,我们将指派专业的顾问为您定制产品解决方案。

0755-89318001
联系我们

芯片第三次光学检测设备(AOI)

  • GIS127S
    添加对比

    GIS127S

    标准型

    用于检测WB/DB后的晶粒、焊点、焊线、框架等的2D缺陷。

  • GIS127TD
    添加对比

    GIS127TD

    FC 3D检测

    2D缺陷+使用激光线对Die倾斜进行3D检测。

  • GIS221
    添加对比

    GIS221

    可嵌入回流焊等PCBA流水线

    2D缺陷+在线式生产,可对接回流焊等流水线设备。

  • GIS211
    添加对比

    GIS211

    多视觉、多角度成像

    2D缺陷+焊线3D缺陷。

  • GIS211TD
    添加对比

    GIS211TD

    多目3D检测

    2D缺陷 + 3D缺陷,双3D视觉系统。

中国集成电路芯片检测设备 领先供应商

专注于集成电路芯片检测装备的研发、生产 和销售。

产品顾问一对一服务

免费产品解决方案

专业团队细致解答

立即咨询

我们欢迎任何人联系我们,请描述您的问题,我们的团队将在2个工作日内与您取得联系。

*姓名

*电话/邮箱

公司名称

*产品类型

问题/建议

格芯承诺收集您的这些信息仅用于与您取得联系,帮助您更好的了解我们。
发送即代表您同意我们的 《隐私政策》