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晶圆光学检测设备用于切割前或切割后晶圆外观检测;采用多倍物镜显微模组,高速相机快速飞拍采集图像,支持多种智能算法;支持黑白彩色双视觉配置,可实现黑白、彩色和高低倍切换检测;设备支持SECS通讯,实现设备监控和数据上传。支持明场和暗场双打光方式进行表面检测;支持标准和定制的mapping格式;支持在线高倍复检和离线高倍复检功能。
兼容带Ring和不带Ring的晶圆,用于晶圆切割前的缺陷检测。
兼容带Ring蓝膜上的6、8、12寸晶圆,用于晶圆切割后的2D、3D缺陷检测及芯片计数。